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聚合物表面分析(X射线光电子谱和静态次级离子质谱)书籍详细信息
- ISBN：9787502533977
- 作者：暂无作者
- 出版社：暂无出版社
- 出版时间：2001-11
- 页数：197 页
- 价格：14.90
- 纸张：暂无纸张
- 装帧：平装
- 开本：暂无开本
- 语言：未知
- 丛书：暂无丛书
- TAG：暂无
- 豆瓣评分：暂无豆瓣评分
内容简介：
本书深入论述了X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）及其在聚合物材料研究中的应用。在聚合物表面的结构分析与特性研究，特别是解决工业研究中有关问题时，XPS和SSIMS普遍被认为是强有力的技术。随着过去十年仪器分析能力和数据阐释方面的飞速发展，该领域已经发展到有可能将这两方面的信息合并起来的阶段。本书中，作者叙述了XPS和SSIMS技术，并就各自可获得的住处类型分别作了解释。本书也包含实际研究细节，强调了在聚合物表面结构研究中，XPS和SSIMS的信息互与联合作用，及其同材料性质的关联。对那些有志于聚合物表面和表面分析科学工作者、工业研究人员，本书是很有考参价值的。
书籍目录：
第一章 引言
1．1 聚合物表面的重要性
1．2 聚合物表面和体相的差异
1．3 添加剂和污染物的影响
1．4 聚合物表面预处理及改性
1．5 与表面特性有关的深度范围
1．6 聚合物表面分析技术的要求
1．7 XPS简要历史
1．8 SIMS简要历史
第二章 X射线光电子谱
2．1 仪器结构
2．2 物理基础
第三章 聚合物的XPS信息
作者介绍：
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出版社信息：
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原文赏析：
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其它内容：
书籍介绍
本书深入论述了X射线光电子谱（XPS）和静态次级离子质谱（SSIMS）及其在聚合物材料研究中的应用。在聚合物表面的结构分析与特性研究，特别是解决工业研究中有关问题时，XPS和SSIMS普遍被认为是强有力的技术。随着过去十年仪器分析能力和数据阐释方面的飞速发展，该领域已经发展到有可能将这两方面的信息合并起来的阶段。本书中，作者叙述了XPS和SSIMS技术，并就各自可获得的住处类型分别作了解释。本书也
书籍真实打分
故事情节：7分
人物塑造：8分
主题深度：8分
文字风格：7分
语言运用：7分
文笔流畅：8分
思想传递：9分
知识深度：4分
知识广度：4分
实用性：7分
章节划分：9分
结构布局：8分
新颖与独特：6分
情感共鸣：8分
引人入胜：6分
现实相关：8分
沉浸感：8分
事实准确性：6分
文化贡献：6分
网站评分
书籍多样性：3分
书籍信息完全性：6分
网站更新速度：7分
使用便利性：4分
书籍清晰度：8分
书籍格式兼容性：3分
是否包含广告：4分
加载速度：9分
安全性：3分
稳定性：9分
搜索功能：5分
下载便捷性：3分
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